@InProceedings{FonsecaMato:2020:EsPrVi,
               author = "Fonseca, Tatiana Regina da and Matos, Priscila Cust{\'o}dio",
          affiliation = "{Instituto Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)} and {Instituto 
                         Nacional de Pesquisas Espaciais (INPE)}",
                title = "Estudo preliminar de viabilidade de aplica{\c{c}}{\~a}o do 
                         microsc{\'o}pio ac{\'u}stico para an{\'a}lise de falhas em 
                         componentes eletr{\^o}nicos espaciais",
                 year = "2020",
         organization = "Simp{\'o}sio de Aplica{\c{c}}{\~o}es Operacionais em {\'A}reas 
                         de Defesa",
             abstract = "T{\'e}cnicas experimentais n{\~a}o destrutivas no {\^a}mbito da 
                         {\'a}rea an{\'a}lise de falhas permitem que numa mesma amostra 
                         possam ser realizados v{\'a}rios ensaios, sem danific{\'a}-la, 
                         aumentando consideravelmente as informa{\c{c}}{\~o}es obtidas 
                         daquela amostra. Com isso, melhora-se o entendimento da causa de 
                         falha e facilita-se a determina{\c{c}}{\~a}o da causa raiz do 
                         problema. O Laborat{\'o}rio de Qualifica{\c{c}}{\~a}o de 
                         Componentes (LQC) pertence ao Laborat{\'o}rio de 
                         Integra{\c{c}}{\~a}o e Testes (LIT) do Instituto Nacional de 
                         Pesquisas Espaciais (INPE) e v{\^e}m estudando t{\'e}cnicas 
                         experimentais que possam auxiliar na investiga{\c{c}}{\~a}o de 
                         falhas em componentes eletr{\^o}nicos empregados na 
                         fabrica{\c{c}}{\~a}o de sat{\'e}lites. Os sat{\'e}lites 
                         s{\~a}o submetidos a condi{\c{c}}{\~o}es severas durante a 
                         opera{\c{c}}{\~a}o em ambiente espacial no espa{\c{c}}o e, 
                         durante a simula{\c{c}}{\~a}o dessas condi{\c{c}}{\~o}es, 
                         podem apresentar falhas que muitas vezes est{\~a}o associadas a 
                         componentes eletr{\^o}nicos. Para este estudo, a t{\'e}cnica 
                         n{\~a}o destrutiva a ser avaliada {\'e} a microscopia 
                         ac{\'u}stica de varredura (SAM-Scanning Acoustic Microscopy). O 
                         laborat{\'o}rio pretende identificar para quais 
                         poss{\'{\i}}veis falhas e tipos de componentes eletr{\^o}nicos 
                         o SAM {\'e} capaz de fornecer informa{\c{c}}{\~o}es relevantes 
                         para a solu{\c{c}}{\~a}o do problema. A an{\'a}lise da 
                         t{\'e}cnica ser{\'a} feita por meio de estudo de caso dos 
                         laborat{\'o}rios de pesquisa do mundo, especificamente para 
                         capacitores cer{\^a}micos de multicamada. A t{\'e}cnica SAM para 
                         os capacitores se mostrou promissora e dever{\'a} ser aplicada 
                         futuramente na institui{\c{c}}{\~a}o.",
      conference-year = "29 a 30 set.",
                label = "self-archiving-INPE-MCTIC-GOV-BR",
             language = "pt",
           targetfile = "fonseca_estudo.pdf",
        urlaccessdate = "09 maio 2024"
}